电子产品世界

尼得科精密检测科技株式会社（以下简称“本公司”）将参展2026年2月11日（周三）～2月13日（周五）于韩国首尔COEX会议中心举办的“SEMICON KOREA 2026”。

本次展会将展出助力下一代功率半导体(IGBT/SiC)市场的检测设备“NATS系列”以及汇总了集团技术的最新检测解决方案

本公司子公司尼得科SV Probe将首次在韩国展出晶圆检测夹具“探针卡”的最新解决方案，包括可实现半导体器件温度测量的TC(Thermo Couple：热电偶)探针，以及采用2D MEMS技术的探针卡等产品。

此外，我们还将展示本公司核心产品半导体封装基板电气检测系统“GATS系列”的最新机型。

2D MEMS探针卡

〈参展概要〉

・   展期：2026年2月11日(周三)～2月13日(周五)

・   会场：首尔市　COEX会议中心

・   展位：1楼Hall Grand Ballroom　G004　

〈展品及Panel展示内容〉

・   2D-MEMS探针卡

・   垂直型 高电流 PROBE

・   器件温度测量 PROBE

・   玻璃微孔加工

・   IGBT/SiC模块用绝缘/静态特性/动态特性检测设备　“NATS-1000/1700系列”

・   KGD测试装置“NATS-1300系列”

・   RWi-300MK(wafer AOI)

・   AC/DC多功能测试仪“R-700系列”

・   AI服务器大型电路板电气检测系统“GATS-8360”

・   超高精度检测用针式探针

关键词： 尼得科精密检测科技 SEMICON KOREA

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